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CTIA标准16探头近场法暗室

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        16探头近场法暗室为博安通引进的近场法(间接法)多探头测试系统,同样也是CTIA认可的测试系统,在采集近场数据后,通过近场-远场的建模转换,能获得准确可靠的远场数据,且测试效率高,适用于小型无线终端产品的SISO OTA测量。

        其测试方案特点包括:

        1.探头数:15+1个;

        2.测试频段:800MHz—6GHz;

        3.待测物最大尺寸:45cm;

        4.测试项:

        天线增益、效率、2D/3D方向图、波瓣宽度、交叉极化比、轴比、相关性系数、相位中心;TRP、TIS、EIRP、EIS、辐射方向图等;

        5.测试能力:2G/3G/4G、Wi-Fi、NB-IoT/eMTC等。


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